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本申请公开了一种基于芯片缺陷检测的检测方法和系统，所述方法包括采集用于训练YOLO检测网络的芯片表面图像；对采集到的所述芯片表面图像进行数据增强；将采集到的所述芯片表面图像及数据增强后得到的图像以及获取的所述矩形框的坐标，获取所述矩形框的坐...
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