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一种位置检测系统（１２），用于确定可回转元件（１４）的角度位置，此检测系统（１２）具有一单个光源（４６），用于沿可回转元件（１４）的纵向轴线方向生成一均匀广角光场，多个扇形检测器环绕可回转元件圆周对准，以接受从光源（４６）来的光，光遮挡器（...
该专利属于剑桥技术公司所有，仅供学习研究参考，未经过剑桥技术公司授权不得商用。

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