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一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置制造方法及图纸
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下载一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置的技术资料
文档序号:25286378
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本实用新型公开了一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置。装置中电光调制器将第一微波信号调制到光线上形成光载微波信号,光载微波信号经待测高双折射保偏光纤后形成两路光程差不同的光载微波信号,两路光程差不同的光载微波信号经光电探测器后输入至混...
该专利属于天津博科光电科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过天津博科光电科技有限公司授权不得商用。
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