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本发明提供了一种开发独立的多元校准模型的方法，该多元校准模型用于根据目标仪器上的对样本的多个主特性的测量结果来确定该样本的副特性。该方法可以考虑基准仪器处的对具有已知副特性的足够数量的校准样本的多个主特性进行测量的结果，而开发出用于目标仪器...该专利属于乌拉帝米尔.阿列克桑德罗维奇.祖布科夫;康斯坦丁.阿纳托利耶维奇.扎里诺夫;阿列克桑德.瓦烈里耶维奇.沙姆赖所有，仅供学习研究参考，未经过乌拉帝米尔.阿列克桑德罗维奇.祖布科夫;康斯坦丁.阿纳托利耶维奇.扎里诺夫;阿列克桑德.瓦烈里耶维奇.沙姆赖授权不得商用。