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一种双侧光刀型高度测量范围可调的三维轮廓测量装置，其特征在于包括有测量头（１）、二维平移工作台（２）、信号处理装置（３）、测量基座（４），其中测量头（１）固定在可在二维方向移动的二维平移工作台（２）上，二维平移工作台（２）通过支撑架（２２）...
该专利属于暨南大学所有，仅供学习研究参考，未经过暨南大学授权不得商用。

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