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本实用新型公开了一种电路板，在该电路板的BGA区域，待测电源的pin端相互电连接形成阻抗测试区域，且所述阻抗测试区域的边缘配置有与阻抗测试区域电连接的匹配接口。该电路板在进行电源阻抗测量时测试点距离芯片较近，测试位置上差异很小；测试时不需要...
该专利属于上海泽丰半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海泽丰半导体科技有限公司授权不得商用。

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