温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种基于ARM技术的半导体加热制冷特性反馈装置，涉及半导体冷热曲线技术领域，为解决在对半导体材料进行冷热曲线检测时，采用对半导体进行通电加热来检测，半导体长时间通电容易导致内部电子活性降低，降低半导体灵敏度，导致温度变化曲线...
该专利属于南京洛吉克电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京洛吉克电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。