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本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质，所述缺陷检测方法包括：输入图像，并对所述图像进行多次小波变换；分别获取多次小波变换中每次小波变换对应的目标图像集，其中，所述目标图像集包括低频图像与所述低频图像对应的三个方向...
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