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本发明提供了一种基于非吸收光谱校正红外掩星传感器低层切高的方法，步骤一：通过GF‑AIUS探测的一级光谱数据，一级光谱数据包括多个一级切高和多个切高上的探测光谱数据；步骤二：对探测光谱数据进行分析，确定要校正的低层切高范围；步骤三：通过HI...
该专利属于南通大学;北京空间机电研究所所有，仅供学习研究参考，未经过南通大学;北京空间机电研究所授权不得商用。

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