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本发明提供一种能够实现避免电波暗箱的大型化及依赖于被试验对象与测量用天线之间的距离的功耗的增大并且有效的杂散测量的天线装置及测量方法。天线装置(1)构成为具备：DUT扫描机构(56)，在OTA暗室(50)的内部空间(51)内，以具有天线(1...
该专利属于安立股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安立股份有限公司授权不得商用。

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