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电容测微器制造技术
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文档序号:2511335
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一种能够在大频率范围以低噪声水平测量位移的电容测微器,包括一个可变振荡器(JR1、L1、Cmic),该可变振荡器包括一个可变电容(Cmic),振荡器频率随电容而变,振荡器安装在与要测量的物体相邻的一个测头(P)中,并且一个鉴别器(D)由一根...
该专利属于坤门仪器有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过坤门仪器有限公司授权不得商用。
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