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形貌测量方法及其测量装置制造方法及图纸
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文档序号:2508570
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一种形貌测量方法(surface profile measuring method),是以一宽频光源经分光镜分束后,分别照射待测物体表面与一参考面,由两个表面的反射光产生干涉,以一固定步幅,改变物体表面与分光镜的距离,产生一高度值对应...
该专利属于致茂电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过致茂电子股份有限公司授权不得商用。
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