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本发明涉及基于光学干涉检测样品中的分析物的装置和方法。所述装置包括光源、检测器单元和一个或一个以上一次性检测器尖头。所述装置还包括将光从所述光源耦合到所述检测器尖头且从所述检测器尖头耦合到所述检测器单元的光耦合组件。...
该专利属于佛特比奥公司所有，仅供学习研究参考，未经过佛特比奥公司授权不得商用。

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