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本发明涉及一种模拟GIS内部触头接触不良的试验装置，包括壳体以及壳体内的动导体、梅花触头、静导体和绝缘子，壳体包括圆筒、底盖和封盖，绝缘子为圆柱形且一端设有第一凸起，底盖一端开有与绝缘子形状相同的第一凹槽，该第一凹槽底部设有与第一凸起形状相...该专利属于国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司;同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司;同济大学授权不得商用。