下载一种针对智能卡芯片的测试系统的技术资料

文档序号:24964413

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本发明实施例提供一种针对智能卡芯片的测试系统,包括测试机及参与并行测试的多个智能卡芯片;其中:测试机包括一个或多个100MDM板卡,100MDM板卡包括多个100MDM测试资源;并且,每个智能卡芯片的VCC管脚单独连接100MDM板卡进行供...
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