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本发明公开了一种波长漂移的测量方法和波长漂移的测量系统，用于测量ONU激光器突发时产生的波长漂移，测量方法包括：将被测ONU激光器的发射光通过可调光滤波器进行衰减，可调光滤波器满足特定的衰减曲线；获取被测ONU激光器在常发光下的光功率P0和...
该专利属于武汉光迅科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉光迅科技股份有限公司授权不得商用。

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