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本发明公开了一种基于卷积神经网络的铜箔基板缺陷检测方法，包括以下步骤：数据集收集与标记；对数据集的图像进行数据扩展；构造一个快速准确的卷积神经网络模型；将数据集样本图片输入到上述卷积神经网络模型中进行迭代训练，获得最佳检测模型；将待检测铜箔...
该专利属于杭州电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学授权不得商用。

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