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本发明公开了一种基于电磁钳注入的传导抗干扰测试系统及方法，涉及检测技术领域。本发明的测试系统包括上位机、射频信号发生器、衰减器、电磁耦合钳、第一耦合/去耦网络、第二耦合/去耦网络、第三耦合/去耦网络以及第四耦合/去耦网络；上位机通过数据传输...
该专利属于长虹美菱股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长虹美菱股份有限公司授权不得商用。

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