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本公开披露一种微焦斑光源参数测量透镜、以及测量系统和方法，该系统包括：X射线聚焦镜，设置于待测量的X射线光源之后，并使所述X射线在其中进行单次全反射；X射线探测器，设置于所述X射线聚焦镜之后，配置有用于调节器件同轴的多维度调节架；所述X射线...
该专利属于北京师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京师范大学授权不得商用。

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