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本发明公开了一种测量非导电材质涂装膜厚度的方法，通过连接有高频天线发射头的高周波发生装置标识目标厚度范围内的多阶段涂装膜产品及未涂装的素材产品，确定波形的最低点和膜厚极限值，取空白波形的非波谷任意点，加上膜厚的极限值的波谷点连成直线，作为测...
该专利属于江苏新思达电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏新思达电子有限公司授权不得商用。

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