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建立功率半导体装置中的电连接的劣化状态的诊断装置和方法制造方法及图纸
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下载建立功率半导体装置中的电连接的劣化状态的诊断装置和方法的技术资料
文档序号:24865590
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一种建立功率半导体装置(1)中的电连接的劣化状态的方法包括:‑针对相同的温度值在两个相应电流值下测量至少两个电压降值。两个电流值严格不同,或者在晶体管的两个不同的栅极电平(G)下进行测量;‑保存所测量的值作为校准数据;‑监测所述功率半导体装...
该专利属于三菱电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三菱电机株式会社授权不得商用。
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