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本发明公开了一种质子束靶点和束线中心位置测量装置及其测量方法。本发明的测量装置包括N元四极透镜、激光器、靶和闪烁屏；靶和闪烁屏分别位于N元四极透镜的前方和后方，测量质子束经N元四极透镜聚焦后在闪烁屏上的位置，将N元四极透镜变换到M元四极透镜...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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