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本申请公开了一种芯片的测试方法、设备和存储介质，包括：在预存的品种参数中调用目标晶圆对应的探针走向，探针走向是基于样品晶圆的烧针位置，对烧针位置进行规避的走向；根据目标晶圆对应的探针走向，移动探针对目标晶圆上的每一个需要测试的芯片进行测试；...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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