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本实用新型公开了一种电路测试用的弹性接触探针,涉及到探针技术领域,包括针管和移动针轴,所述针管的内部开设有盲孔,所述移动针轴包括接触端和卡止部,所述卡止部位于盲孔内并与针管的内壁相接触,所述移动针轴的内部开设有空腔,所述盲孔的底端内壁固定连...该专利属于苏州斯丹德电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州斯丹德电子科技有限公司授权不得商用。
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本实用新型公开了一种电路测试用的弹性接触探针,涉及到探针技术领域,包括针管和移动针轴,所述针管的内部开设有盲孔,所述移动针轴包括接触端和卡止部,所述卡止部位于盲孔内并与针管的内壁相接触,所述移动针轴的内部开设有空腔,所述盲孔的底端内壁固定连...