温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请实施例提供一种SRAM时序测试电路、方法和存储器。其中，SRAM时序测试电路包括第一模式切换电路、测试模式选择电路和第二模式切换电路，在SRAM时序测试电路测量双端口SRAM存储单元的数据读取时间时，利用双端口SRAM存储单元的读数据...
该专利属于展讯通信(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过展讯通信(上海)有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。