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本发明公开一种量化电路运行速度变化的测量电路，用来量化一目标电路的运行速度在不同运行条件下的变化，该测量电路包含一信号产生电路、一可调延迟电路、一信号检测器、以及一校正电路。该信号产生电路用来产生一预定信号。该可调延迟电路用来于一第一与第二...
该专利属于瑞昱半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞昱半导体股份有限公司授权不得商用。

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