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本发明涉及无损检测技术领域，具体公开了一种无损检测装置，其中，包括：直流磁化组件和热成像组件，所述热成像组件设置在被测试件的一侧，所述被测试件穿过所述磁化组件设置，所述直流磁化组件能够对所述被测试件进行磁化；所述热成像组件能够向所述被测试件...
该专利属于华中科技大学无锡研究院所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学无锡研究院授权不得商用。

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