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本发明公开了一种单源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，包括用于发射X射线的X射线源、第一准直器、测角仪、样品放置台、第二准直器、第一探测器、第二探测器和计算机控制系统。本发明通过合理的结构及流程设计，将X射线衍射分析技术与计算机断...
该专利属于中国工程物理研究院材料研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院材料研究所授权不得商用。

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