温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种分光光度测量设备(1)，所述设备用于基于对通过扩散而传播通过散射介质(4)的光的衰减的测量来确定散射介质(4)中的光学参数。为了消除光被引导于所述介质(4)的表面(23)与所述设备(1)的接触表面(8)之间的中间光学层(25)中的有害影...
该专利属于苏黎世大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏黎世大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。