下载用于测试待测设备的天线阵列的方法及测试系统的技术资料

文档序号:24763296

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种用于测试天线阵列的方法使用探测天线来测量该天线阵列的RF信号天线图。该方法包括测量相对于该天线阵列的第一位置处和第二位置处的该RF信号天线图。该第一位置和该第二位置位于该天线阵列的中场中离该天线阵列的不同距离处。该中场满足该天线阵列的近...
该专利属于是德科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过是德科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。