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本发明属于半导体激光器领域；目前关于激光器缺陷对其激光性能的影响研究主要集中在激光器损伤发生后对其频谱特性分析，并未涉及从物理学的角度微观分析激光器腔面材料内部自由电子密度的变化，本发明提供一种激光器腔面的损伤阈值计算方法，入射激光辐照下腔...
该专利属于太原理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过太原理工大学授权不得商用。

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