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本发明属于光学精密测量技术领域，公开了一种基于双光梳干涉测量法的光学镜片质量检测系统及方法，系统包括光源系统、干涉测量系统、信号处理系统。光源系统包括第一光学频率梳和第二光学频率梳，用于产生重复频率满足外差拍频条件的两束激光；干涉测量系统中...
该专利属于山西大学所有，仅供学习研究参考，未经过山西大学授权不得商用。

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