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缺陷检测方法及缺陷检测系统技术方案
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文档序号:24693800
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一种缺陷检测方法,包括:利用不同波长的相干光源(11、12、13、14)照射被测物体;拍摄被测物体在不同波长的相干光源(11、12、13、14)照射下生成的多幅散斑图像;利用散斑图像检测被测物体的缺陷。有益效果:测量精度达到了光波波长量级,...
该专利属于合刃科技(深圳)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合刃科技(深圳)有限公司授权不得商用。
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