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本发明公开了一种基于谱聚类的软件缺陷特征选择方法，包括如下步骤：导入待进行特征选择的软件缺陷数据集，并提取软件缺陷预测特征集；剔除软件缺陷预测特征集中的无关特征；建立特征间相关性矩阵；基于谱聚类对特征集进行聚类分析，得到若干组高内聚低耦合的...该专利属于北京高质系统科技有限公司;北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京高质系统科技有限公司;北京航空航天大学授权不得商用。