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一种氮化镓外延层及半导体器件制造技术
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文档序号:24682471
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本实用新型公开一种氮化镓外延层及半导体器件,涉及半导体技术领域。本实用新型的半导体器件包括:半导体衬底、第一缓冲层、第二缓冲层、第三缓冲层、势垒层、钝化层、第一阳极、介质层、第二阳极、阴极、保护层、阳极导通金属、阴极导通金属和场板层。本实用...
该专利属于深圳市晶相技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市晶相技术有限公司授权不得商用。
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