下载一种薄膜生产中物理参数的测量方法的技术资料

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本发明属于微波测量技术领域,具体涉及一种薄膜生产中物理参数的测量方法。本发明的方法主要包括:通过微波传感器检测出薄膜穿过微波传感器衰减的能量r...
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