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本发明为一种基于改进混合优化算法的纳米薄膜参数反演计算方法，其特征在于：所述的纳米薄膜是在基底层上镀介质薄膜后形成的顺序由基底层、中间层和介质薄膜层组成的三层结构纳米薄膜，所述的混合优化算法是利用爬山算法对全连接神经网络的权值进行迭代优化而...
该专利属于上海市计量测试技术研究院;中国计量大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海市计量测试技术研究院;中国计量大学授权不得商用。

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