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本专利公开了一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，该装置由波长可调谐单色光光源模块、起偏器、待检波片、检偏器、能量探测组件组成，待检波片位于起偏器与检偏器中间，旋转待检波片导致出射光能量变化，通过测试出光能量的变化来准确标定波片相...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。

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