温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种微区下发光件的外量子效率检测系统及其检测方法，该检测系统包括：接收光路，包括第一显微物镜及用于测定光强的第一检测装置，第一检测装置对准于第一显微物镜的后端；用于获取接收光路的响应函数的标定设备，包括光源、用于将光线汇聚于第一...
该专利属于上海复享光学股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海复享光学股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。