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本发明公开了一种激光脉冲调制深度的探测链路及衡量方法，所述链路包括分束器、微处理器和与分束器、微处理器连接的第一探测链路和第二探测链路。这种链路结构简单、组成成本低、搭建方便。本发明公开的探测链路衡量方法分别对激光脉冲的幅度以及调制信号的幅...
该专利属于中国电子科技集团公司第三十四研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第三十四研究所授权不得商用。

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