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一种X衍射超重样品支架属于大型仪器测试领域，包括样品架部分、升降台部分；样品架部分包含第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)和样品托板(4)；第一立柱(1)、第二立柱(2)、第三立柱(3)等高，且第一立柱位于第二立柱(2)、第三立柱...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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