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一种基于插值运算的光谱重构方法技术
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文档序号:24574764
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本发明涉及光谱重构技术领域,公开了一种基于插值运算的光谱重构方法。该方法首先选取有限数量含量已知纺织品作为样品,并采集每个样品的光谱数据,分为训练集和预测集,将训练集中样品的光谱数据结合其参比值进行偏最小二乘法建模,记录为模型A,然后根据样...
该专利属于四川长虹电器股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过四川长虹电器股份有限公司授权不得商用。
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