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本发明公开了一种相似缺陷报告推荐方法、系统、计算机设备和存储介质，方法包括：对新缺陷报告进行预处理，构建该缺陷报告的第一实体集合S1；计算集合S1中每个实体的TF‑IDF值，并按照TF‑IDF值对实体进行降序排列，构建第二实体集合S2；针对...
该专利属于扬州大学所有，仅供学习研究参考，未经过扬州大学授权不得商用。

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