温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本申请提供一种核材料计量系统及方法,系统包括:多个待测量容器,多个待测量容器包括第一容器和第二容器;其中,第一容器用于盛放待测量的核材料样品,第二容器用于盛放空白样品;用于保持温度稳定的多个温度控制装置,多个温度控制装置包括第一温度控制装置...该专利属于中国工程物理研究院材料研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国工程物理研究院材料研究所授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本申请提供一种核材料计量系统及方法,系统包括:多个待测量容器,多个待测量容器包括第一容器和第二容器;其中,第一容器用于盛放待测量的核材料样品,第二容器用于盛放空白样品;用于保持温度稳定的多个温度控制装置,多个温度控制装置包括第一温度控制装置...