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本发明属于单晶叶片检测应用技术领域，具体公开了利用二维选晶法制备单晶叶片在001取向优化的检测方法，步骤1、依据二维选晶器的001方向的截面的外观方向建立空间直角坐标系；步骤2、利用一次枝晶在两个侧面的投影和单晶生长方向的夹角α和β，计算出...
该专利属于江苏金瑞机械制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏金瑞机械制造有限公司授权不得商用。

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