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本发明公开了一种基于电容成像提离曲线的金属表面轮廓深度反演方法，涉及无损检测信号处理领域，包括：获取电容成像探头在被测金属试件上沿提离方向扫描数据并选取拟合范围进行方程拟合；基于所述拟合后的方程构建提离和检测值一一对应数据库；获取沿检测方向...
该专利属于中国石油大学(华东)所有，仅供学习研究参考，未经过中国石油大学(华东)授权不得商用。

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