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本发明公开了一种降低光路中粉尘对红外测温影响的校正方法及系统，根据红外测温原理，建立原始机理模型，基于原始机理模型和粉尘影响下的参考体，获取粉尘透射率，基于原始机理模型和粉尘透射率，建立粉尘影响下的机理校正模型，基于机理校正模型，获得粉尘影...
该专利属于中南大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南大学授权不得商用。

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