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本申请涉及微电子控制技术领域,特别地,涉及一种集成电路漏电流测试电路及装置。一定程度上可以解决集成电路管脚漏电流测试中采样电阻两端信号与测试电路不能隔离,导致漏电流测试结果的误差大、可靠性降低的问题。所述集成电路漏电流测试电路,包括:处理器...该专利属于乐普医学电子仪器股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过乐普医学电子仪器股份有限公司授权不得商用。
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本申请涉及微电子控制技术领域,特别地,涉及一种集成电路漏电流测试电路及装置。一定程度上可以解决集成电路管脚漏电流测试中采样电阻两端信号与测试电路不能隔离,导致漏电流测试结果的误差大、可靠性降低的问题。所述集成电路漏电流测试电路,包括:处理器...