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本发明公开了一种绝缘子污秽成分高光谱识别方法，方法包括以下步骤：绝缘子人工污秽模拟检测；获取不同样品的高光谱图像，选取第一类污秽区域作为感性区域ROI，以感性区域ROI反射率光谱为输入量主成分分析，计算前三主成分的载荷因子，代入样品集光谱，...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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