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本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种用于动态二次离子质谱仪的样品的制备方法及其制得的样品，该方法包括以下步骤：将边长或直径小于等于2mm的样品的待测面朝下放置在平整的载体上，所述载体的熔点高于250℃；在样品的两侧放置固定片，固定片的一面...
该专利属于胜科纳米(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜科纳米(苏州)有限公司授权不得商用。

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